Espectrómetro de masas de descarga de brillo de doble enfoque semerfei

Espectrómetro de masas de descarga de brillo de doble enfoque semerfeiCombinando la fuente de iones de descarga de brillo y el analizador de masa de alta resolución de doble enfoque, se puede analizar cualitativamente y cuantitativamente casi todos los elementos de las muestras sólidas, incluidos c, n y o, y es una herramienta para analizar directa y rápidamente el contenido de revistas de muestras de alta pureza y la composición de los elementos del material de recubrimiento.

Espectrómetro de masas de descarga de brillo de doble enfoque semerfeiConcentra las ventajas de la descarga de brillo y la espectrometría de masas de alta resolución, con un rendimiento sobresaliente en los siguientes aspectos:

Alto flujo de prueba de la muestra: el diseño de la fuente de iones element GD y el clip de la muestra permite acortar el tiempo de cambio y análisis y aumentar significativamente la productividad;

El rango lineal del detector es amplio: el rango lineal del detector alcanza 12 órdenes de magnitud, lo que puede detectar la composición de la matriz y los oligoelementos simultáneamente en un escaneo;

Las ranuras de baja, media y alta resolución con ancho fijo permiten el análisis directo de isótopos con interferencia de espectrometría de masas con alta resolución.