SRM 640f， Polvo de silicio (nist, Estados unidos)

¡La compañía representa profesionalmente las muestras estándar de polvo de silicio NIST - SRM 640f en los Estados unidos, ¡ bienvenido a preguntar!

158 - 128 - 17678Gerente Chen

SRM 640f - polvo de silicio (estándar de posición y forma de línea de la difracción de polvo)

英文名称： SRM 640f - Estándar de posición de línea y forma de línea para difracción de polvo (polvo de silicio)

Especificaciones: 7,5g / botella

SRM 640f - polvo de silicioEstá diseñado para ser utilizado como estándar para calibrar la posición y la alineación de los rayos derivados determinados por el método de difracción de polvo. Una unidad SRM 640f está compuesta por unos 7,5 gramos de polvo de silicio cargado en argón.

Descripción del material: el SRM está hecho de barras de silicio intrínsecas de ultra alta pureza, trituradas y pulverizadas hasta un tamaño mediano de partícula de 4,1 micras. El polvo resultante fue luego recocido a 1000 ° C en argón durante 2 horas [1] y embotellado en argón. El análisis de los datos de difracción de polvo de rayos X muestra que el material SRM es uniforme en términos de propiedades de difracción.

Valor de certificación: parámetro de celosía de certificación con temperatura

22,5 ° C es 0543 114 4 nm ± 000008 nm

El intervalo definido por este valor y su incertidumbre extendida (k = 2) está determinado principalmente por la incertidumbre de clase B estimada a partir del conocimiento técnico de los datos de medición y su distribución. Los valores de certificación del NIST se refieren a los valores en los que el NIST está seguro de su precisión, ya que se han investigado o tenido en cuenta todas las fuentes de desviación conocidas o sospechosas. Los valores de certificación y las incertidumbres se calculan de acuerdo con el método descrito en la Guía ISO / jcgm [2]. El objeto medido es un parámetro de celosía. La trazabilidad metrológica se expresa en longitud unitaria, en nanómetros.