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Elipsometro espectral se - VM

NegociableActualización en02/18

modelo

Naturaleza del fabricante: Productores

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Descripción general

Introducción del producto: se - VM es un elipsometro espectral de medición rápida de alta precisión. A través de la medición de parámetros elípticos, transmisión / reflectividad y otros parámetros, se puede realizar rápidamente la caracterización y análisis de películas de parámetros ópticos y nanoestructuras, que es adecuado para la caracterización rápida de materiales de película delgada. Admite configuraciones flexibles de alta compatibilidad, como múltiples ángulos, manchas de luz, sistemas de Nivelación visual, y diseño personalizado de módulos multifuncionales. Solución de medición elíptica de alta precisión $r $n $r $n; Medición ultraprecisa, rápida y no destructiva; Soporte para la personalización flexible de módulos funcionales de múltiples ángulos, manchas de luz y sistemas de Nivelación visual; Rica base de datos y biblioteca de modelos de estructura geométrica para garantizar una fuerte capacidad de análisis de datos

Detalles del producto

Modelo del producto	Elipsometro espectral se - VM
Características principales	1. se utiliza una fuente de luz compuesta importada de alto rendimiento, que puede ver el rango infrarrojo cercano (380 - 1000 nm) en la cobertura espectral. 2. modulación del compensación giratorio de alta precisión y configuración pcrsa para realizar la adquisición de datos espectrales PSI / Delta a alta velocidad 3. la configuración de la serie de soporte es flexible y puede soportar la personalización modular multifuncional de acuerdo con diferentes escenarios de aplicación. 4. cientos de bases de datos de materiales y diversas bases de datos de modelos algorítmicos cubren la mayoría de los materiales fotoeléctricos actuales.
Parámetros técnicos	1. grado de automatización: cambio manual de ángulo 2. posicionamiento de la aplicación: universal 3. funciones básicas: espectro PSI / delta, n / C / s, R / t, etc. 4. espectro de análisis 380 - 1000nm (se puede ampliar a 210 - 1650nm) 5. tiempo de medición único: 0,5 - 5s 6. precisión de medición repetitiva: 0,01 nm 7. tamaño del punto de luz: punto de luz grande 2 - 3 mm, punto de luz ligero 200 micras 8. modo de ajuste del ángulo de incidencia: cambio manual del ángulo 9. rango de ángulo de incidencia: 55 - 75 ° (5 ° pasos), 90 ° 10. método de búsqueda de coque: búsqueda manual de coque 11. itinerario de mapping: no se admite 12. tamaño de la muestra de soporte: hasta 180 mm
Accesorios opcionales	1	Mesa de control de temperatura
	2	Módulo de extensión Mapping
	3	Bomba de vacío
	4	Componentes de absorción de transmisión

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