Perfilador de morfología tridimensional nanofocus

Serie nanofocus microsurfPerfilador de morfología tridimensionalEl agujero del detector se sustituye por un disco giratorio con muchos agujeros, utilizando la técnica de confocalización poroso, combinada con la captación de imágenes del cld, y luego el objetivo se mueve verticalmente, de manera similar a la tomografía computarizada, que permite medir con precisión los datos tridimensionales del objeto en poco tiempo (unos segundos). Su método de medición es sin contacto, no destruye la superficie de la muestra, no necesita medirse en un ambiente de vacío, también puede observar la muestra con una función de medición microscópica, y también puede usarse normalmente en un ambiente de trabajo duro. Debido al uso del método de enfoque común, al medir la altura del gradiente grande, en comparación con otros métodos, se puede medir la altura del objeto con mayor precisión y establecer una imagen tridimensional 3d, con ventajas bastante obvias.

Serie microsurfPerfilador de morfología tridimensionalaplicación
La serie microsurf se utiliza para medir la morfología física de la superficie y realizar análisis de morfología tridimensional a escala micro - nanométrica, como la morfología de la superficie 3d, la morfología de profundidad 2d, el contorno (profundidad, anchura, curvatura, ángulo), la rugosidad de la superficie, etc.
Componentes de precisión: detectar piezas necesarias para el desgaste de la superficie, la rugosidad de la superficie y la microestructura de la superficie, como cilindros de motor, cuchillos, etc.;
Ciencias de la vida: medición del espesor del recubrimiento en el soporte de stents, etc.
Sistemas de micromecánica: detección de dispositivos en miniatura, detección de tejidos en ingeniería farmacéutica, como chips genéticos, etc.
Semiconductores: detección de sistemas microelectrónicos, encapsulamiento y diseño de estructuras de productos auxiliares
Energía solar: caracterización morfológica 3d, medición de la relación de alto ancho de la línea de rejilla de células solares, caracterización morfológica 3D después de la fabricación de terciopelo (tamaño, número, ángulo de la pirámide monocristalina, morfología y densidad de pozos de corrosión policristalinos, análisis de rugosidad, etc.
Papel: medición de la morfología tridimensional de la superficie del papel y la moneda
Led: para la medición de sustratos de zafiro, muestreo de la morfología 3D de wafer después del pss ICP

Serie microsurfParámetros técnicos
Fuente de luz led: Lambda = 505 nm, mtbf: 50000 H
Tiempo de medición: 2 a 10 segundos
Principio de medición: sin contacto, enfoque común
Dirección X / y: rango de movimiento de la plataforma: 100mmx100mm / 200mmx200mm / 300mmx300mm (tamaño opcional), motor, resolución de dirección X / y: 0,3 micras
Rango de medición en dirección z: 350 micras, resolución en dirección z: inferiora 1 nm
Objetivo: 10x, 20x, 50x, 100x (opcional)
Cámara fuera del eje (10x), Zui Big Vision 8 x 6 mm2 (opcional)
Computadora: sistema de control informático de alto rendimiento, software potente e integral, con función de empalme
Con mesa de trabajo profesional: tamaño 1550x800x750 mm (lxh)
Fuente de alimentación de trabajo: 100 - 240v, 50 - 60hz, entrada: 550 va
Material: acero, caucho, mármol
Peso: unos 150 kg + 80 kg
Nivel de Sala limpia: clase de capacidad 6 (aceptar a Din en ISO 14644)