Microscopio confocal láser

μsurf Explorer sistema de medición de precisión y análisis de superficie
Los productos de la serie microsurf utilizan la tecnología de confocalización poroso, combinada con la captación de imágenes del cld, reemplazan el agujero del detector por un disco giratorio con muchos agujeros, y luego mueven el objetivo verticalmente, de manera similar a la tomografía, que puede medir con precisión los datos tridimensionales del objeto en poco tiempo (unos segundos). Su método de medición es sin contacto, no destruye la superficie de la muestra, no necesita medirse en un ambiente de vacío, también puede observar la muestra con una función de medición microscópica, y también puede usarse normalmente en un ambiente de trabajo duro. Debido al uso del método de enfoque común, al medir la altura del gradiente grande, en comparación con otros métodos, se puede medir la altura del objeto con mayor precisión y establecer una imagen tridimensional 3d, con ventajas bastante obvias.

El sistema de medición de precisión y análisis de superficie nanofocus microsurf Explorer tiene funciones completas, estructura compacta y alta relación calidad - precio, y tiene una resolución óptica súper alta y una amplia capacidad de análisis de morfología de superficie tridimensional de zui.

Microscopio confocal láseraplicación
La serie microsurf se utiliza para medir la morfología física de la superficie y realizar análisis de morfología tridimensional a escala micro - nanométrica, como la morfología de la superficie 3d, la morfología de profundidad 2d, el contorno (profundidad, anchura, curvatura, ángulo), la rugosidad de la superficie, etc.
Componentes de precisión: detectar piezas necesarias para el desgaste de la superficie, la rugosidad de la superficie y la microestructura de la superficie, como cilindros de motor, cuchillos, etc.;
Ciencias de la vida: medición del espesor del recubrimiento en el soporte de stents, etc.
Sistemas de micromecánica: detección de dispositivos en miniatura, detección de tejidos en ingeniería farmacéutica, como chips genéticos, etc.
Semiconductores: detección de sistemas microelectrónicos, encapsulamiento y diseño de estructuras de productos auxiliares
Energía solar: caracterización morfológica 3D de la línea de rejilla de la célula, medición de la relación de alto ancho, caracterización morfológica 3D después de la fabricación de terciopelo (tamaño, número, ángulo de la pirámide monocristalina, morfología y densidad de la fosa de corrosión policristalina, análisis de rugosidad, etc.
Papel: medición de la morfología tridimensional de la superficie del papel y la moneda

Microscopio confocal láserParámetros técnicos
Fuente de luz led: Lambda = 505 nm, mtbf: 50000 H
Tiempo de medición: 5 a 10 segundos
Principio de medición: sin contacto, enfoque común
Dirección X / y, rango de movimiento de la plataforma: 50 mmx50 mm, motor, resolución: 0,3 micras
Rango de medición en dirección z: 250 micras, resolución: 2 nm
Objetivo: 10x, 20x, 50x, 100x (opcional)
Computadora: sistema de control informático de alto rendimiento, software totalmente funcional, con función de empalme,
Fuente de alimentación de trabajo: 100 - 240v, 50 - 60hz, entrada inferior a 45w
Material: acero, caucho, mármol
Tamaño exterior: 710x270x330 mm (hxd)
Peso: 28 kg
Nivel de Sala limpia: clase de capacidad 6 (aceptar a Din en ISO 14644)

El negocio principal de la compañía:, imagero totalmente automático