Describe el espectrómetro ARL Quart 'x edxrf para proporcionar el rendimiento límite, la versatilidad y la fiabilidad del análisis elemental. Su diseño compacto de escritorio, dispositivos ópticos estrechamente acoplados y detectores de enfriamiento electrónico nos permiten obtener una precisión de análisis incomparable en un amplio rango dinámico, desde ppm hasta la concentración porcentual de elementos. ¡¡ la función de ARL Quart 'x edxrf se ha vuelto más poderosa! Además del detector de si (li) enfriado por peltier, ahora el instrumento está equipado con SDD - sdd1000 de 1 mm de espesor y 30 mm2 de área. El SDD es capaz de manejar altas tasas de conteo con una excelente resolución y suele ser mucho más delgado que el detector si (li). El espesor común es de 0,45 mm, y la eficiencia de detección es pobre a mayor energía. El espesor del nuevo sdd1000 en ARL Quart 'x se ha duplicado con creces hasta alcanzar los 1 mm. la versión sdd1000 muestra una mejor sensibilidad en la tabla periódica que el ARL quart' x basado en si (li), con un límite de detección hasta el doble del original, y también es adecuada para elementos de metales pesados como CD y sn. ¡Además, ¡ el tiempo de conteo también se puede reducir a 1 / 4 del original! El nuevo sdd1000 combina las ventajas de los detectores SDD y si (li). La tecnología Peltier si (li) enfría el detector o el detector de deriva de silicio de 1 mm de espesor (sdd). Tecnología de procesamiento digital de pulsos (dpp). Análisis de alto rendimiento y multielemento. Thermo científico seleccionado ™ UniQuant ™ El software puede proporcionar excelentes análisis sin muestras estándar.
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