Osciloscopio de muestreo digital Teck

Osciloscopio de muestreo digital Teck

Características:

Precisión de medición de la señal del módulo eléctrico:

• Temblor del sistema ultra bajo ( < 100 fs, valor típico)
• > 70 GHz

Lograr un bajo ruido del sistema en la industria en todos los anchos de banda:

• Gran valor 600 microv (valor típico 450 microv) @ 60 GHz
• Gran valor 380 micras V (valor típico 280 micras v) @ 30 GHz

Varios seis canales en un solo host recogen temblores de menos de 100 FS al mismo tiempo.

El módulo óptico admite pruebas de consistencia óptica a todas las velocidades estándar de 155 MB / s a 100 GB / S (4x25) ethernet.

Excelente rendimiento de adquisición, con una tasa de muestreo de hasta 300 KS / S.

Capaz de colocar el muestreador cerca del equipo probado (dut).

Corrección independiente de la diferencia de fase del Canal calibrado.

Osciloscopio de muestreo digital Teck Ventaja:

El temblor de fondo de < 100 FS permite la verificación de equipos de alta velocidad (40 y 100 (4 '25) GB / s), y el intervalo típico de unidades de señal inferior al 5% es utilizado por el instrumento de prueba. El ancho de banda de 70 GHz permite la verificación completa de las señales de alta velocidad (armónicos de Quinto orden con una velocidad de datos de 28 GB / S y armónicos de tercer orden con una velocidad de datos superior a 45 GB / s).

Reducir en gran medida la cantidad de ruido del instrumento al recoger señales de alta velocidad y baja amplitud, evitando otros ruidos que puedan traer temblores adicionales y cierre de mapas oculares.

La adquisición de alta fidelidad de múltiples canales diferenciales puede realizar pruebas de daño entre canales y mejorar el rendimiento de prueba de múltiples sistemas de canales serie de alta velocidad.

Sistemas de prueba óptica asequibles y versátiles para estándares ópticos monomodo y multimodo, desde 155 GB / S (oc3 / stm1) hasta 40 GB / S (sonet / SDH y 40gbase ethernet) y 100 GB / s Ethernet (100gbase - sr4, - lr4 y er4), con longitudes de onda de 850, 1310 y 1550 nm.

A través de un excelente rendimiento del sistema, el tiempo de prueba de fabricación o verificación de equipos se puede reducir en cuatro veces.

La cabeza de muestreo remota reduce en gran medida el deterioro de la señal causado por el cable y la fijación entre el DUT y el instrumento, simplificando la incrustación inversa del sistema de prueba.

El módulo de doble canal tiene una corrección integrada de la diferencia de fase del Canal calibrado, eliminando el retraso de tiempo y mejorando la fidelidad de la señal de la medición multicanal.