Oxford Oxford Oxford cmi760 medidor de espesor de cobre de cara de PCB / agujero de cobre

Oxford Oxford cmi760 medidor de espesor de cobre de agujero y superficie de PCB

Oxford Oxford Oxford cmi760 medidor de espesor de cobre de agujero de placa de circuito cmi700

El CMI 700 está diseñado específicamente para satisfacer las necesidades de medición y control de calidad del espesor del cobre en la industria de placas de circuito impreso.

El CMI 760 se puede utilizar para medir el espesor del cobre superficial y el cobre interno perforado. Este sistema de medidores de espesor de escritorio de alta escalabilidad puede utilizar dos métodos: microresistencia y vórtice eléctrico para lograr una medición precisa y precisa del espesor del cobre superficial y el cobre interno perforado. El sistema de medición de escritorio CMI 700 tiene una versatilidad y escalabilidad muy altas, y la compatibilidad con una variedad de sondas le permite satisfacer una variedad de necesidades de aplicación, incluyendo la medición del cobre superficial, el cobre dentro de los agujeros y el espesor del cobre dentro de los agujeros, así como la prueba de calidad del cobre dentro de los agujeros.

Al mismo tiempo, CMI 760 tiene una función estadística * para la Organización y análisis de los datos de prueba.

La configuración del CMI 700 incluye:

Host y certificado CMI 700

Sonda SRP - 4

Módulo de sonda de reemplazo de sonda SRP - 4 (1)

Tabletas estándar y certificados para la verificación certificados NIST

Accesorios opcionales:

Sonda ETP sonda TRP sonda SRG software

Parámetros técnicos de la prueba de la sonda de cobre SRP - 4:

Rango de medición del espesor del cobre:

Cobre químico: 10 Muin - 500 Muin (0,25 mum - 12,7 mum)

Cobre chapado: 0,1 mils - 6 mils (2,5 micras - 152 micras)

Rango de ancho de línea testable de cobre lineal: 8 mils - 250 mils (203 micras - 6350 micras)

Precisión: + 1% (+ 0,1 μm) película estándar de referencia

Precisión: cobre químico: desviación estándar del 0,2%; Cobre chapado: desviación estándar del 0,5%

Resolución: 0,01 mils ≥ 1 mils, 0001 mils < 1 mils,

0.1μm≥10μm, 0.01μm < 10μm, 0.001μm < 1μm

Parámetros técnicos de la prueba de la sonda de cobre del agujero etp:

Diámetro del pequeño agujero Zui testable: 35 mils (899 micras)

Rango de espesor medido: 0,08 - 4,0 mils (1 - 102 micras)

Principio de vórtice eléctrico: cumplir con las regulaciones pertinentes de la norma ASTM - e376 - 96

Precisión: + 0,01 mil (0,25 μm) = 1 Mil (25 μm)

Precisión: 1,2 mils (30 μm) al alcanzar el 1,0% (en caso de laboratorio)

Resolución: 0,01 mil (0,1 μm)

Pantalla digital LCD de 6 dígitos

La unidad de medida Um - mils es opcional

Promedio estadístico, desviación estándar, Zui Max de gran valor, Zui Min de pequeño valor

Interfaz 232 Puerto serie, impresión paralela

Fuente de alimentación ac220

Tamaño del instrumento 290x270x140mm

El instrumento pesa 2,79 kg