Analizador de frente de onda de alta resolución / sensor de frente de onda / detector de diferencia de fase de frente de onda
400×300Alta resolución,500umAlto rango dinámico, alta relación calidad - precio, detección simultánea de frente de onda yM^2¡Sensores de frente de onda!
Palabras clave:Sensor de frente de onda, analizador de frente de onda, astigmatismo de frente de onda, sensor, medidor de frente de onda,Detector de frente de onda, analizador de frente de onda láser, analizador de frente de onda hartmann,Localización del iris, sensor de frente de onda hartmann, diferencia de imagen de frente de onda, analizador de frente de onda de alta resolución, medidor de frente de onda, analizador de haz láser y frente de onda, Shake Hartman, lenteMTF
La compañía desarrolla de forma independienteEl sensor de frente de onda esBasado en la tecnología de interferencia de corte transversal de cuatro ondas.SID4serieEn comparación con los detectores tradicionales de frente de onda SHAKE - hartmann, el analizador de frente de onda tieneAlta resolución, acromatología, alta sensibilidad,Rango de detección dinámico altoVentajas de, fácil de operar, etc. paraDesviación del Frente de ondaDetección de la distorsión del Frente de onda y haz láser yFrente de onda¡¡ la medición y el análisis, la orientación de la desviación de frente de onda de posicionamiento del iris oftalmológico, etc., proporcionan una nueva solución!La interfaz de software del detector de frente de onda es amigable y puede exportar intuitivamente mapas de fase de alta resolución y mapas de distribución de intensidad de haz.
Analizador de frente de onda de alta resolución / sensor de frente de onda / detector de diferencia de fase de frente de onda
La planta de producción de sensores de frente de onda está equipada conFuerte fuerza de investigación y desarrollo tecnológico, puede proporcionar a los clientes una variedad de sistemas ópticos adaptativosOA-SYS (bucles de óptica adaptativa),Desarrollar soluciones personalizadas. Adecuado para el cliente * Zui de acuerdo con las necesidades de aplicación del clienteSID4Sensores de frente de onda, espejos deformables oModulación de luz espacial, software de operación del sistema óptico adaptativo, etc.

Figura 1 Comparación entre antes y después de la corrección del Frente de onda
El detector de frente de onda se basa en su corte transversal de cuatro ondas.interferenciaTecnología, se ha actualizado y mejorado a gran escala la tecnología de máscara hartman.El sensor de frente de onda400×300Resolución súper alta y500umEl gran rango dinámico * se combina. Puede satisfacer las necesidades de aplicación de diferentes clientes, y puede realizar la intensidad, la fase y el haz láser.PSF(función de difusión puntual),MTF(Función de transferencia de modulación)OTF(función de transferencia óptica),Desviación del Frente de onda,M^2Medición en tiempo real, simple y rápida.
* MinisterioPresentación del producto
SID4 UV-HRSensor de frente de onda ultravioleta de alta resolución
La compañíaSID4El rango de longitud de onda de medición del Frente de onda se extiende a190nm-400nm.SID4 UV-HREs un sensor de frente de onda de alta resolución adecuado para la banda ultravioleta, que es muy adecuado para la medición de componentes ópticos (como impresión, semiconductores, etc.) y la detección de superficie (detección de chips semiconductores, etc.).
Características:
uAlta resolución()250x250(...)
uGran apertura óptica()8.0mmx8.0mm(...)
uEspectro ultravioleta cubierto
uAlta sensibilidad()0.5um(...)
uOptimizar la relación señal - ruido

Figura 2 analizador de frente de onda sid4 - UV
SID4Sensor de frente de onda
Disponible para400nm-1000nm Fase de frente de onda, distribución de intensidad, distorsión de frente de onda, láserM2, parámetros zenik, etc., para la medición en tiempo real y la salida de parámetros.
Características:
En la parte inferiorRango de longitud de onda:400-1100nm
En la parte inferiorAlta resolución()160x120(...)
En la parte inferiorAcromatosis
En la parte inferiorAlta estabilidad de medición
En la parte inferiorNo sensible a las vibraciones
En la parte inferiorFácil de usar
En la parte inferiorEstructura compacta y pequeño tamaño
En la parte inferiorSe puede controlar con un ordenador portátil


Figura 3SID4Detección de fase
Se puede utilizar para detectar todo tipo deLente, sistema ópticoDetección en tiempo real de lentes y sistemas ópticosPSF(función de difusión puntual),MTF(función de transferencia de modulación),OTF(ópticaFunción de transferencia), medición de desviación de frente de onda y salida de parámetros. En comparación con los equipos tradicionales de detección de lentes, como el transmisor de cartas y el interferómetro, tiene las ventajas de una operación simple, alta precisión de medición y salida conveniente de parámetros, y está siendo respetado por cada vez más clientes.
Características:
uRango de longitud de onda:400-1100nm
uCámara de alto rendimiento con alta relación señal - ruido
uMedición en tiempo real, dando inmediatamente información sobre toda la superficie del objeto..120000Puntos de medición)
uEl tiempo de exposición es extremadamente corto, lo que garantiza la medición de objetos dinámicos.
uFácil de usar

Figura 4SID4-HR

Mapa5 SID4-HRDetección de funciones de transferencia
SID4 NIR Analizador de frente de onda
Principalmente parade 1550 nm()1.5um-1.6um(...)Detección láser, con alta resoluciónAlta sensibilidad,Alto rango dinámicoVentajas de, fácil de operar, etc. Se puede utilizar para mediciones ópticas,SID4 NIREs medir la distorsión de los objetos infrarrojos y las lentes infrarrojas.PSF,MTFY la distancia focal y la calidad de la superficie son herramientas ideales.
Características:
²Alta resolución..160x120(...)
²Medición rápida
²Buena relación calidad - precio
²medición
²No sensible a las vibraciones
Mapa6 SID4 NIRDetección de frente de onda láser
SID4 DWIRFrente de onda
Tiene las características de la medición de banda ancha. Detección en tiempo real3-5umy8-14umInformación del Frente de onda de la respuesta, como la fase del Frente de onda y la distribución de la intensidad. Puede satisfacer bien las necesidades de detección de frente de onda de los clientes de banda infrarroja.
Características:
uMedición óptica:SID4 DWIREs la medición de las características de los objetos infrarrojos (imágenes térmicas y visión segura) o lentes infrarrojas..CO2Láser) herramienta ideal, los resultados de salida incluyenMTF,PSF, distorsión, masa de la superficie y distancia focal de la lente.
uMedición del haz:CO2Láser, infrarrojoOPOFuente de luz láser, etc.)SID4 DWIRProporciona parámetros detallados de las características del haz: distorsión,M2Distribución de la intensidad de la luz, características del haz, etc.
uAlta resolución..96x72(...)
uSe puede lograr la medición
uPuede cubrir la medición de Gran Apertura numérica en las bandas de infrarrojo medio y lejano, sin necesidad de lentes de tránsito adicionales.
uLa medición rápida no es sensible a la vibración
uSe puede realizar la medición fuera del eje
uBuena relación calidad - precio

Mapa7SID4 DWIR
SID4Resumen de los parámetros del modelo del producto
modelo |
SID4 |
SID4-HR |
SID4 UV-HR |
SID4 NIR |
SID4 DWIR |
SID4-SWIR |
Tamaño del agujero..mm (mm)2(...) |
3,6 x 4,8 |
8,9 x11,8 |
8,0 x 8,0 |
3.6x4.8 |
13.44x10.08 |
9.6x7.68 |
Resolución espacial(um) |
29.6 |
29.6 |
32 |
29.6 |
140 |
120 |
Puntos de medición |
160x120 |
300x400 |
250x250 |
160x120 |
96x72 |
80x64 |
Rango de longitud de onda |
350-1100 nm |
350-1100 nm |
190-400 nm |
1.5-1.6µm |
3-5 µm 8-14 µm |
0,9-1,7 µm |
Precisión |
RMS de 10 nm |
RMS de 10 nm |
RMS de 10 nm |
> RMS de 15 nm |
RMS de 75 nm |
RMS de 10 nm |
Rango dinámico |
> 100 µm |
> 500 µm |
> 200um |
> 100 µm |
/. |
~ 100 m m |
Velocidad de muestreo |
60 fps |
10 fps |
30 fps |
60 fps |
50 fps |
60 fps |
Velocidad de procesamiento |
> 10 fps |
> 3 fps |
1 fps |
< 10 fps |
20 Hz |
> 10Hz |
Segunda parteSoftware de control
SID4Software de control del analizador de frente de onda
SID4Software de control del analizador de frente de ondaJunto con el sensor de frente de onda sid4, se proporciona un software de análisis completo, que integra un mapa de fase de alta resolución y un mapa de distribución de intensidad para medir la distribución de intensidad y la información de frente de onda.
Con la ayuda deLabviewyC++Base de datos de módulos programables (kit de desarrollo secundario de software), los clientes pueden escribir varios módulos de medición y compilación de fase de acuerdo con sus propias necesidades.
Bucles de óptica adaptativaPonerSID4 Sensor frontal de ondaEn combinación con su aplicación, elija el espejo deformable adecuado o el regulador de fase para proporcionar un conjunto completo de sistemas ópticos adaptativos. Nunca es fácil reducir la diferencia de fase entre cualquier sistema óptico, nuestros productos pueden traer soluciones más confiables y precisas para haces láser y sistemas de imágenes.

Mapa8 SID4Interfaz de control
SID4Software de medición ópticaKaleo
Sensores de frente de onda basados en interferencia de corte y software de medición óptica especialmente diseñadoKaleoEn combinación, se pueden medir las desviaciones de los espejos esféricos y asféricos yMTFY otra información. En solo unos segundos, nuestro instrumento le presenta la mayoría de los parámetros ópticos, como la distancia focal, la cintura de la luz,MTF, aberrancia,ZernikeCoeficiente, Radio de curvatura,PSFEspera.
Parte 3Comparación con el analizador de frente de onda Hartmann tradicional
Comparación con los resultados de medición del sensor de frente de onda Hartmann tradicional:


Comparación de parámetros técnicos:
|
FÁSICA |
de Shack-Hartmann |
diferencia |
tecnología |
Interferencia de corte |
Matriz de microlentes |
FÁSICACuando se lanzó al mercado, se había solicitado la tecnología, que era una actualización de la tecnología SHAKE - hartman. |
Modo de reconstrucción |
Transformación de FFT |
Ley de zonas o modelos |
Detector de frente de onda SHAKE - hartmann, derivado local aproximado por el promedio de la región de la unidad de microlente, con gran error |
intensidad |
No sensible a los cambios de intensidad |
Sensible a los cambios de intensidad |
FÁSICAAlta precisión de medición, la medición del Frente de onda no depende del nivel de intensidad |
calibración |
Calibrar con agujeros de aguja, conveniente y rápido |
La instalación es difícil y se necesita una mesa de ajuste de precisión. |
FÁSICAFácil de usar |
Punto de muestreo |
SID4-HRLlegar300x400Punto de medición |
128x128Punto de medición (múltiples microlentes) |
FÁSICACon mayor resolución |
Apertura numérica |
NA:0.5 |
NA:0.1 |
FÁSICAMayor rango dinámico |
resolución |
29,6 μm |
115 μm |
FÁSICACon mayor resolución espacial |
Precisión de medición |
RMS de 2 nm |
RMS de 5 nm |
FÁSICAMejor precisión de medición |
Frecuencia de adquisición |
60 fps |
30fps |
FÁSICAAcceso rápido |
Frecuencia de procesamiento |
> 10Hz |
30Hz |
FÁSICAPuede cumplir con la mayoría de los requisitos de tratamiento |
Acromatosis |
No es necesario calibrar cada longitud de onda |
Es necesario corregir en cada longitud de onda |
FÁSICAMás flexible para probar bandas anchas sin necesidad de calibrar |
Parte IVcampo de aplicación
En la parte inferiorLáser, astronomía, microscopía, oftalmología, etc.Adaptación complejaDetección de distorsiones de frente de onda en el sistema óptico
En la parte inferiorRendimiento del haz láser, desviación del Frente de onda,M^2Detección de, intensidad, etc.
En la parte inferiorDetección infrarroja y infrarroja cercana
En la parte inferiorTubo de luz paralelo/.Detección e instalación del sistema de telescopios
En la parte inferiorImágenes de teleobservación por satélite, imágenes biológicas, imágenes térmicas
En la parte inferiorEsféricos, asféricosDetección de componentes ópticos(Plano,Esfera,lente(...)
En la parte inferiorGuía de desviación de posicionamiento del iris
En la parte inferiorDetección de componentes ópticos de gran calibre y alta precisión
En la parte inferiorCampo de las comunicaciones láser
En la parte inferiorÁrea aeroespacial