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Shanghai Haoliang Optoelectronic Equipment Co., Ltd
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Analizador de frente de onda de alta resolución / sensor de frente de onda / detector de diferencia de fase de frente de onda

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Descripción general

El analizador de frente de onda de alta resolución / sensor de frente de onda / detector de diferencia de fase de frente de onda se basa en la tecnología de interferencia de corte transversal de cuatro ondas. En comparación con los detectores de frente de onda SHAKE - Hartmann tradicionales, los analizadores de frente de onda de la serie sid4 tienen las ventajas de alta resolución, acromatología, alta sensibilidad, alto rango de detección dinámica y fácil operación.

Detalles del producto

Analizador de frente de onda de alta resolución / sensor de frente de onda / detector de diferencia de fase de frente de onda

400×300Alta resolución,500umAlto rango dinámico, alta relación calidad - precio, detección simultánea de frente de onda yM^2¡Sensores de frente de onda!

Palabras clave:Sensor de frente de onda, analizador de frente de onda, astigmatismo de frente de onda, sensor, medidor de frente de onda,Detector de frente de onda, analizador de frente de onda láser, analizador de frente de onda hartmann,Localización del iris, sensor de frente de onda hartmann, diferencia de imagen de frente de onda, analizador de frente de onda de alta resolución, medidor de frente de onda, analizador de haz láser y frente de onda, Shake Hartman, lenteMTF

La compañía desarrolla de forma independienteEl sensor de frente de onda esBasado en la tecnología de interferencia de corte transversal de cuatro ondas.SID4serieEn comparación con los detectores tradicionales de frente de onda SHAKE - hartmann, el analizador de frente de onda tieneAlta resolución, acromatología, alta sensibilidad,Rango de detección dinámico altoVentajas de, fácil de operar, etc. paraDesviación del Frente de ondaDetección de la distorsión del Frente de onda y haz láser yFrente de onda¡¡ la medición y el análisis, la orientación de la desviación de frente de onda de posicionamiento del iris oftalmológico, etc., proporcionan una nueva solución!La interfaz de software del detector de frente de onda es amigable y puede exportar intuitivamente mapas de fase de alta resolución y mapas de distribución de intensidad de haz.

Analizador de frente de onda de alta resolución / sensor de frente de onda / detector de diferencia de fase de frente de onda

La planta de producción de sensores de frente de onda está equipada conFuerte fuerza de investigación y desarrollo tecnológico, puede proporcionar a los clientes una variedad de sistemas ópticos adaptativosOA-SYS (bucles de óptica adaptativa),Desarrollar soluciones personalizadas. Adecuado para el cliente * Zui de acuerdo con las necesidades de aplicación del clienteSID4Sensores de frente de onda, espejos deformables oModulación de luz espacial, software de operación del sistema óptico adaptativo, etc.

Figura 1 Comparación entre antes y después de la corrección del Frente de onda

El detector de frente de onda se basa en su corte transversal de cuatro ondas.interferenciaTecnología, se ha actualizado y mejorado a gran escala la tecnología de máscara hartman.El sensor de frente de onda400×300Resolución súper alta y500umEl gran rango dinámico * se combina. Puede satisfacer las necesidades de aplicación de diferentes clientes, y puede realizar la intensidad, la fase y el haz láser.PSF(función de difusión puntual),MTF(Función de transferencia de modulación)OTF(función de transferencia óptica),Desviación del Frente de onda,M^2Medición en tiempo real, simple y rápida.

* MinisterioPresentación del producto

SID4 UV-HRSensor de frente de onda ultravioleta de alta resolución

La compañíaSID4El rango de longitud de onda de medición del Frente de onda se extiende a190nm-400nm.SID4 UV-HREs un sensor de frente de onda de alta resolución adecuado para la banda ultravioleta, que es muy adecuado para la medición de componentes ópticos (como impresión, semiconductores, etc.) y la detección de superficie (detección de chips semiconductores, etc.).

Características:

uAlta resolución()250x250(...)

uGran apertura óptica()8.0mmx8.0mm(...)

uEspectro ultravioleta cubierto

uAlta sensibilidad()0.5um(...)

uOptimizar la relación señal - ruido

Figura 2 analizador de frente de onda sid4 - UV

SID4Sensor de frente de onda

Disponible para400nm-1000nm Fase de frente de onda, distribución de intensidad, distorsión de frente de onda, láserM2, parámetros zenik, etc., para la medición en tiempo real y la salida de parámetros.

Características:

En la parte inferiorRango de longitud de onda:400-1100nm

En la parte inferiorAlta resolución()160x120(...)

En la parte inferiorAcromatosis

En la parte inferiorAlta estabilidad de medición

En la parte inferiorNo sensible a las vibraciones

En la parte inferiorFácil de usar

En la parte inferiorEstructura compacta y pequeño tamaño

En la parte inferiorSe puede controlar con un ordenador portátil

Figura 3SID4Detección de fase

Se puede utilizar para detectar todo tipo deLente, sistema ópticoDetección en tiempo real de lentes y sistemas ópticosPSF(función de difusión puntual),MTF(función de transferencia de modulación),OTF(ópticaFunción de transferencia), medición de desviación de frente de onda y salida de parámetros. En comparación con los equipos tradicionales de detección de lentes, como el transmisor de cartas y el interferómetro, tiene las ventajas de una operación simple, alta precisión de medición y salida conveniente de parámetros, y está siendo respetado por cada vez más clientes.

Características:

uRango de longitud de onda:400-1100nm

uCámara de alto rendimiento con alta relación señal - ruido

uMedición en tiempo real, dando inmediatamente información sobre toda la superficie del objeto..120000Puntos de medición)

uEl tiempo de exposición es extremadamente corto, lo que garantiza la medición de objetos dinámicos.

uFácil de usar

Figura 4SID4-HR

Mapa5 SID4-HRDetección de funciones de transferencia

SID4 NIR Analizador de frente de onda

Principalmente parade 1550 nm()1.5um-1.6um(...)Detección láser, con alta resoluciónAlta sensibilidad,Alto rango dinámicoVentajas de, fácil de operar, etc. Se puede utilizar para mediciones ópticas,SID4 NIREs medir la distorsión de los objetos infrarrojos y las lentes infrarrojas.PSF,MTFY la distancia focal y la calidad de la superficie son herramientas ideales.

Características:

²Alta resolución..160x120(...)

²Medición rápida

²Buena relación calidad - precio

²medición

²No sensible a las vibraciones

Mapa6 SID4 NIRDetección de frente de onda láser

SID4 DWIRFrente de onda

Tiene las características de la medición de banda ancha. Detección en tiempo real3-5umy8-14umInformación del Frente de onda de la respuesta, como la fase del Frente de onda y la distribución de la intensidad. Puede satisfacer bien las necesidades de detección de frente de onda de los clientes de banda infrarroja.

Características:

uMedición óptica:SID4 DWIREs la medición de las características de los objetos infrarrojos (imágenes térmicas y visión segura) o lentes infrarrojas..CO2Láser) herramienta ideal, los resultados de salida incluyenMTF,PSF, distorsión, masa de la superficie y distancia focal de la lente.

uMedición del haz:CO2Láser, infrarrojoOPOFuente de luz láser, etc.)SID4 DWIRProporciona parámetros detallados de las características del haz: distorsión,M2Distribución de la intensidad de la luz, características del haz, etc.

uAlta resolución..96x72(...)

uSe puede lograr la medición

uPuede cubrir la medición de Gran Apertura numérica en las bandas de infrarrojo medio y lejano, sin necesidad de lentes de tránsito adicionales.

uLa medición rápida no es sensible a la vibración

uSe puede realizar la medición fuera del eje

uBuena relación calidad - precio

Mapa7SID4 DWIR

SID4Resumen de los parámetros del modelo del producto

modelo

SID4

SID4-HR

SID4 UV-HR

SID4 NIR

SID4 DWIR

SID4-SWIR

Tamaño del agujero..mm (mm)2(...)

3,6 x 4,8

8,9 x11,8

8,0 x 8,0

3.6x4.8

13.44x10.08

9.6x7.68

Resolución espacial(um)

29.6

29.6

32

29.6

140

120

Puntos de medición

160x120

300x400

250x250

160x120

96x72

80x64

Rango de longitud de onda

350-1100 nm

350-1100 nm

190-400 nm

1.5-1.6µm

3-5 µm 8-14 µm

0,9-1,7 µm

Precisión

RMS de 10 nm

RMS de 10 nm

RMS de 10 nm

> RMS de 15 nm

RMS de 75 nm

RMS de 10 nm

Rango dinámico

> 100 µm

> 500 µm

> 200um

> 100 µm

/.

~ 100 m m

Velocidad de muestreo

60 fps

10 fps

30 fps

60 fps

50 fps

60 fps

Velocidad de procesamiento

> 10 fps

> 3 fps

1 fps

< 10 fps

20 Hz

> 10Hz

Segunda parteSoftware de control

SID4Software de control del analizador de frente de onda

SID4Software de control del analizador de frente de ondaJunto con el sensor de frente de onda sid4, se proporciona un software de análisis completo, que integra un mapa de fase de alta resolución y un mapa de distribución de intensidad para medir la distribución de intensidad y la información de frente de onda.

Con la ayuda deLabviewyC++Base de datos de módulos programables (kit de desarrollo secundario de software), los clientes pueden escribir varios módulos de medición y compilación de fase de acuerdo con sus propias necesidades.

Bucles de óptica adaptativaPonerSID4 Sensor frontal de ondaEn combinación con su aplicación, elija el espejo deformable adecuado o el regulador de fase para proporcionar un conjunto completo de sistemas ópticos adaptativos. Nunca es fácil reducir la diferencia de fase entre cualquier sistema óptico, nuestros productos pueden traer soluciones más confiables y precisas para haces láser y sistemas de imágenes.

Mapa8 SID4Interfaz de control

SID4Software de medición ópticaKaleo

Sensores de frente de onda basados en interferencia de corte y software de medición óptica especialmente diseñadoKaleoEn combinación, se pueden medir las desviaciones de los espejos esféricos y asféricos yMTFY otra información. En solo unos segundos, nuestro instrumento le presenta la mayoría de los parámetros ópticos, como la distancia focal, la cintura de la luz,MTF, aberrancia,ZernikeCoeficiente, Radio de curvatura,PSFEspera.

Parte 3Comparación con el analizador de frente de onda Hartmann tradicional

Comparación con los resultados de medición del sensor de frente de onda Hartmann tradicional:

Comparación de parámetros técnicos:

FÁSICA

de Shack-Hartmann

diferencia

tecnología

Interferencia de corte

Matriz de microlentes

FÁSICACuando se lanzó al mercado, se había solicitado la tecnología, que era una actualización de la tecnología SHAKE - hartman.

Modo de reconstrucción

Transformación de FFT

Ley de zonas o modelos

Detector de frente de onda SHAKE - hartmann, derivado local aproximado por el promedio de la región de la unidad de microlente, con gran error

intensidad

No sensible a los cambios de intensidad

Sensible a los cambios de intensidad

FÁSICAAlta precisión de medición, la medición del Frente de onda no depende del nivel de intensidad

calibración

Calibrar con agujeros de aguja, conveniente y rápido

La instalación es difícil y se necesita una mesa de ajuste de precisión.

FÁSICAFácil de usar

Punto de muestreo

SID4-HRLlegar300x400Punto de medición

128x128Punto de medición (múltiples microlentes)

FÁSICACon mayor resolución

Apertura numérica

NA:0.5

NA:0.1

FÁSICAMayor rango dinámico

resolución

29,6 μm

115 μm

FÁSICACon mayor resolución espacial

Precisión de medición

RMS de 2 nm

RMS de 5 nm

FÁSICAMejor precisión de medición

Frecuencia de adquisición

60 fps

30fps

FÁSICAAcceso rápido

Frecuencia de procesamiento

> 10Hz

30Hz

FÁSICAPuede cumplir con la mayoría de los requisitos de tratamiento

Acromatosis

No es necesario calibrar cada longitud de onda

Es necesario corregir en cada longitud de onda

FÁSICAMás flexible para probar bandas anchas sin necesidad de calibrar

Parte IVcampo de aplicación

En la parte inferiorLáser, astronomía, microscopía, oftalmología, etc.Adaptación complejaDetección de distorsiones de frente de onda en el sistema óptico

En la parte inferiorRendimiento del haz láser, desviación del Frente de onda,M^2Detección de, intensidad, etc.

En la parte inferiorDetección infrarroja y infrarroja cercana

En la parte inferiorTubo de luz paralelo/.Detección e instalación del sistema de telescopios

En la parte inferiorImágenes de teleobservación por satélite, imágenes biológicas, imágenes térmicas

En la parte inferiorEsféricos, asféricosDetección de componentes ópticos(Plano,Esfera,lente(...)

En la parte inferiorGuía de desviación de posicionamiento del iris

En la parte inferiorDetección de componentes ópticos de gran calibre y alta precisión

En la parte inferiorCampo de las comunicaciones láser

En la parte inferiorÁrea aeroespacial