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Medidor de morfología de superficie tridimensional

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Descripción general
La tecnología de enfoque común e interferencia de fusión inteligente del medidor de morfología de superficie tridimensional de sensofar permite al dispositivo tener funciones como la medición de rugosidad, la morfología tridimensional y la medición del espesor de la película al mismo tiempo, precisamente debido a esta fusión tecnológica, la relación calidad - precio de Smart es mucho mayor que la de otros dispositivos Del mismo tipo.
Detalles del producto

Características del producto

Medidor de morfología de superficie tridimensionalEl peso de s Mart es aproximadamente la mitad del de s Neox (6 kg), y la apariencia compacta le da más opciones en la instalación, como poder instalarse directamente en la línea de producción para su análisis, etc. En general, en el entorno de producción suele haber factores como vibraciones o contaminación por sustancias nocivas que no son adecuados para la colocación de instrumentos de medición, pero el SMART ya tiene en cuenta estos factores en su desarrollo, y el diseño integrado le permite soportar la contaminación externa o los efectos de las vibraciones.

AunqueMedidor de morfología de superficie tridimensionalEl volumen de s Mart es más pequeño que el de S neox, pero también conserva la interferencia de luz blanca, la interferencia de diferencia de fase, Confocal, Las cuatro funciones de repetición rápida también utilizan Luz LED en la parte de la fuente de luz, y los clientes pueden elegir flexiblemente bandas como 460 nm, 530 nm, 630 nm o luz blanca.

La tecnología de enfoque común e interferencia de fusión sensofar permite que el dispositivo tenga funciones como la medición de la rugosidad, la morfología tridimensional y la medición del espesor de la película al mismo tiempo, precisamente debido a esta fusión tecnológica, la relación rendimiento - precio del perfilador óptico s Mart es mucho mayor que la de otros dispositivos del mismo tipo. S Mart integra funciones de imágenes microscópicas, imágenes de enfoque común, contornos de enfoque común, interferencia de diferencia de fase (psi), interferencia de luz blanca (vsi) y medición del espesor de la película de alta resolución. Esta tecnología de microplay basada en el diseño, una interfaz de software concisa y fácil de aprender, le permite obtener la información necesaria de manera rápida y precisa Solo seleccionando la lente correcta, centrándose correctamente y seleccionando el método de medición.